掃描型紫外可見分光光度計(jì)可通過建立標(biāo)準(zhǔn)曲線，顯示曲線圖譜和方程式，利用朗伯比爾定律輸入數(shù)據(jù)測試，可以自動(dòng)調(diào)整波長，自動(dòng)波長校準(zhǔn)，自動(dòng)數(shù)據(jù)存儲，采用64位點(diǎn)陣液晶顯示器，可直接顯示標(biāo)準(zhǔn)曲線和測試數(shù)據(jù)，主機(jī)可存儲測試數(shù)據(jù)，并可選配打印機(jī)打印。
雙光束掃描型可見分光光度計(jì)是實(shí)驗(yàn)室常規(guī)分析設(shè)備，它利用光譜分析方法對樣品進(jìn)行定性、定量分析，在有機(jī)化學(xué)、無機(jī)化學(xué)、生物化學(xué)、生命科學(xué)、藥品分析、食品檢驗(yàn)、醫(yī)藥衛(wèi)生、環(huán)保、地質(zhì)、冶金、石油、機(jī)械、商檢和農(nóng)業(yè)等各個(gè)領(lǐng)域都有廣泛的應(yīng)用。
掃描型分光光度計(jì)通過PC掃描軟件可直接聯(lián)機(jī)操作，進(jìn)行光度測量，定量分析(含標(biāo)準(zhǔn)曲線功能)、波長掃描、多波長測試、DNA/蛋白質(zhì)和核酸測試等。
掃描型分光光度計(jì)的基線平直度調(diào)整說明：
基線平直度是指掃描透射比為100和0時(shí)基線傾斜或彎曲的程度。如果基線的平直性差，就會使樣品的吸收光譜中各吸收峰之間的比值發(fā)生變化，給定性分析造成錯(cuò)誤。導(dǎo)致基線不平直的主要原因是儀器的光學(xué)系統(tǒng)失調(diào)，兩光束不平衡。如儀器受震動(dòng)，光源位置變動(dòng)等都會引起光學(xué)系統(tǒng)故障(基線平直度要以吸光度表示)。有些設(shè)備對基線平直非常敏感，容易超出規(guī)程標(biāo)準(zhǔn)，因此在進(jìn)行此項(xiàng)測量時(shí)要使機(jī)器充分預(yù)熱，光譜帶寬設(shè)為2 nm，并且在儀器遮光罩關(guān)閉后穩(wěn)定2 min后再進(jìn)行波長掃描。
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